通過實(shí)驗(yàn)手段對(duì)高能量基本粒子進(jìn)行的探測(cè)。從20世紀(jì)50年代開始,由于高能加速器技術(shù)的發(fā)展,被加速粒子的能量越來越高,因此,在不同的時(shí)期,“高能”的定義是不同的。在60年代,幾吉電子伏就認(rèn)為是屬于高能范圍。到了80年代,幾十吉電子伏以上才夠得上稱為高能。為了著重?cái)⑹?/span>高能粒子的探測(cè)方法,這里把幾吉電子伏能量的粒子認(rèn)為是高能粒子。 電子e和
質(zhì)子p-內(nèi)部結(jié)構(gòu)模型圖
在所有的高能粒子中,除了電子e和質(zhì)子p可以用加速器加速的辦法達(dá)到高能量以外,其他的高能粒子,如帶電的π±介子、K±介子、反質(zhì)子圴、Σ±超子、μ±子(也包括e和p)和不帶電的(即中性的)中子n、Ko 介子、Λo 超子、γ光子、J/ψ粒子、μ子中微子vμ、電子中微子ve等等,都只能在粒子的相互作用中產(chǎn)生。對(duì)于高能粒子相互作用,一般可表示成以下形式:,A為入射的高能粒子,B為靜止的靶粒子(在AB對(duì)撞的情況下,A和B在質(zhì)心系都為高能粒子),C、D、E、F等為A和B作用后產(chǎn)生的次級(jí)粒子。高能粒子探測(cè)的基本內(nèi)容就是:記錄次級(jí)粒子數(shù)目,確定次級(jí)粒子本身的性質(zhì)(質(zhì)量、電荷、壽命)以及確定次級(jí)粒子的運(yùn)動(dòng)量(能量、動(dòng)量、飛行方向)。探測(cè)高能粒子的基本原理是依據(jù)帶電粒子與物質(zhì)原子的電離或激發(fā)作用,不同粒子有不同電離(和激發(fā))強(qiáng)度與動(dòng)量的關(guān)系曲線。現(xiàn)代的絕大多數(shù)探測(cè)器都是根據(jù)這個(gè)原理制成。帶電粒子可以直接被探測(cè)器(如核乳膠、氣泡室、流光室、多絲正比室;漂移室等)探測(cè)到,因此可直接測(cè)定其性質(zhì)。而中性粒子不能使物質(zhì)原子產(chǎn)生電離(或激發(fā)),因此必須通過間接方式來確定其性質(zhì),如通過探測(cè)其衰變的帶電粒子或探測(cè)與物質(zhì)作用產(chǎn)生的帶電粒子。在某些情況下,還可利用高能帶電粒子的切倫科夫輻射效應(yīng)、穿越輻射效應(yīng)等作為探測(cè)原理。此外,由于各種粒子本身的性質(zhì)不同(如強(qiáng)子、光子和輕子等),在探測(cè)方法上也有很大的差別。 需要確定哪些次級(jí)粒子性質(zhì)取決于實(shí)驗(yàn)本身的要求。只要求測(cè)定一個(gè)次級(jí)粒子的性質(zhì)的實(shí)驗(yàn)叫做單舉實(shí)驗(yàn);要求測(cè)定全部次級(jí)粒子的性質(zhì)的實(shí)驗(yàn)叫做遍舉實(shí)驗(yàn)。不管哪種實(shí)驗(yàn),對(duì)于要測(cè)定的具體次級(jí)粒子,一般都要求探測(cè)出它是什么粒子(亦即確定其質(zhì)量和電荷,有時(shí)還要求確定其壽命),它的動(dòng)量以及它的飛行方向,對(duì)于每個(gè)相互作用,通常還要求確定由作用產(chǎn)生的總的次級(jí)粒子數(shù)目。
粒子質(zhì)量的測(cè)定 確定一個(gè)粒子是什么粒子,最主要的是要精確測(cè)定其靜止質(zhì)量。由于不同的粒子具有不同的固有質(zhì)量,知道了質(zhì)量就等于確定了粒子。因此確定粒子質(zhì)量是鑒別粒子的最重要的手段。粒子的質(zhì)量常常不能利用一種方法直接測(cè)定,一般都需要測(cè)定二個(gè)物理量,例如動(dòng)量、動(dòng)能、速度(或洛倫茲因數(shù))等中的兩個(gè),然后再經(jīng)過推算確定其質(zhì)量。 高能粒子的速度接近光速,因此粒子的質(zhì)量m、動(dòng)量p、動(dòng)能T、速度β及洛倫茲因數(shù)γ之間的關(guān)系必須采用A.愛因斯坦的相對(duì)論性公式: 由于p、T、pβ、β、βγ、γ等都是直接可測(cè)量的量,所以測(cè)定了其中的兩個(gè)量(其中之一必須含m的),就能確定質(zhì)量m。選擇測(cè)哪兩個(gè)量最好,要看具體的實(shí)驗(yàn)情況,它取決于所用的探測(cè)器,出于簡便和精確的原因,常測(cè)的一個(gè)量是動(dòng)量。 動(dòng)量的測(cè)定 測(cè)定帶電粒子動(dòng)量的主要方法是利用外加磁場(chǎng)。由于在一定的均勻磁場(chǎng)強(qiáng)度H下,動(dòng)量p正比于粒子軌跡的曲率半徑R 在與磁場(chǎng)垂直平面上的投影R/cosα(α為粒子相對(duì)該平面的仰角),因此根據(jù)已知H,用探測(cè)器測(cè)定R及α,就可確定粒子的動(dòng)量。其關(guān)系是:,p、H、R的單位分別是MeV/c、Gs、m 。對(duì)次級(jí)粒子來說,無論從確定粒子質(zhì)量,還是物理分析的需要,測(cè)定動(dòng)量是極為重要的。 動(dòng)能的測(cè)定 ①帶電粒子在物質(zhì)中與原子進(jìn)行庫侖散射,將使原子激發(fā)或電離,為此,粒子要消耗能量。經(jīng)過dx間距所損失的能量為-dE。實(shí)驗(yàn)表明,粒子在單位距離內(nèi)的能量損失高能粒子探測(cè)
是與該粒子的動(dòng)能T有確定的關(guān)系,因此,用實(shí)驗(yàn)方法測(cè)定高能粒子探測(cè)
值或者是n值高能粒子探測(cè)
,ω為產(chǎn)生一個(gè)離子對(duì)的平均能量,n為單位長度內(nèi)產(chǎn)生的離子對(duì)數(shù) ,就可以得到T 值。對(duì)于不同的帶電粒子(如e、π、p),的關(guān)系是不同的,但由于不同粒子的的關(guān)系曲線存在重疊區(qū),這種方法只在一定范圍內(nèi)適用。② 如探測(cè)器物質(zhì)足夠厚或足夠密,使得帶電粒子能在其中損失掉全部動(dòng)能而停下來,則根據(jù)粒子的射程可確定動(dòng)能T,因?yàn)樯涑膛c動(dòng)能T及質(zhì)量m有關(guān)。T大,m小,射程就越長。對(duì)于相同的T、m,物質(zhì)不同,射程也不同,因此射程也是一個(gè)測(cè)量量。但對(duì)高能粒子來說,使粒子停下來是困難的,故這類測(cè)量大多用于粒子能量不太高的情況。不同物質(zhì)中,各種粒子的射程-能量關(guān)系通常有表可查(射程測(cè)量對(duì)電子是不適用的,因相同T的電子,射程漲落太大)。③用全吸收效應(yīng)測(cè)量總動(dòng)能。對(duì)能量較高的粒子,??捎煤艽?、很厚、很密的物質(zhì)(如大碘化鈉晶體,鍺酸鋇晶體,鉛、火花室交替,鉛玻璃閃爍體等)作為媒質(zhì)的探測(cè)器,使粒子在其中發(fā)生作用而產(chǎn)生次級(jí)粒子,次級(jí)粒子再發(fā)生作用,使再產(chǎn)生次級(jí)粒子,如此重復(fù)地進(jìn)行,最后使全部次級(jí)粒子停止在探測(cè)器中,由于被探測(cè)的粒子在媒質(zhì)中損失的總能是與該粒子的動(dòng)能成正比,因此根據(jù)測(cè)得的總能,可確定入射粒子的T。這種方法可測(cè)定較高能量粒子的總能,用得比較廣泛。根據(jù)這種原理制成的探測(cè)器叫做粒子量能器。 pβ的測(cè)定 在一定的條件下,利用粒子在物質(zhì)中的多次庫侖散射可確定值。多次散射的大小是以粒子多次偏轉(zhuǎn)的平均角度峞(峞為粒子徑跡水平投影角α絕對(duì)值的平均值)來度量的,它與物質(zhì)元素的核電荷數(shù)Z、通過物質(zhì)的厚度t及粒子的pβ值有以下關(guān)系:,式中k1為散射常數(shù),對(duì)確定的物質(zhì)是已知的,而物質(zhì)元素的Z及t也是已知的,因此根據(jù)測(cè)量值α,就可得到pβ值。這種測(cè)量一般只能在密物質(zhì)(例如核乳膠、氙氣泡室等) 中進(jìn)行,在輕物質(zhì)中不能作這種測(cè)量,所以應(yīng)用并不廣泛。 速度β的測(cè)量?、?利用切倫科夫輻射效應(yīng):cosθ=。β為入射粒子速度,n為透明媒質(zhì)的折射率,θ為切倫科夫光的發(fā)射角。所以測(cè)定θ,已知n,就可求出β。這種測(cè)量也有一定范圍。當(dāng)β很接近于1時(shí),就很難精確測(cè)定β了。②飛行時(shí)間法。使粒子分別通過探測(cè)器A和B,如果知道AB之間距離為l及經(jīng)過的時(shí)間間隔為Δt,則可直接求出,此法就是利用測(cè)定粒子飛行時(shí)間Δt(已知l)的方法來求得β。 βγ的測(cè)定 粒子通過探測(cè)器時(shí),根據(jù)記錄到的單位距離內(nèi)的離子對(duì)數(shù) (如云室中的水珠數(shù)、泡室中的氣泡數(shù)、流光室中的流光數(shù)等等,亦稱電離程度)N可以求得βγ值。N和βγ有以下關(guān)系:,A和k在一定條件下為常數(shù)。通常的做法是事先作出I/Io(即N/No)與βγ的關(guān)系曲線,然后根據(jù)I/Io的測(cè)量值求得βγ值。I(或N)為粒子的電離度,Io(或No)為該粒子的最小電離度。 γ的測(cè)定 當(dāng)粒子能量很高時(shí),β≈1,而洛倫茲因數(shù)γ卻與能量成正比,能量越高,γ就越大。因此,對(duì)于很高能量的粒子,γ是一個(gè)理想的測(cè)量量。測(cè)定γ,可以利用粒子穿過多層物質(zhì)時(shí)的穿越輻射效應(yīng),實(shí)驗(yàn)表明,由粒子產(chǎn)生的穿越輻射(X 射線區(qū))的光子數(shù)是與粒子的γ值成正比,因此測(cè)定穿越輻射的光子數(shù)就可得到γ值。這種方法一般只能用于探測(cè)單個(gè)粒子,而且精度并不太高。 粒子電荷的探測(cè) 整數(shù)電荷 由于迄今為止所觀察到的高能粒子都是單電荷(電荷量等于電子或質(zhì)子的電荷量)或中性的,所以確定粒子的帶電性,實(shí)驗(yàn)上就是簡單地確定電荷符號(hào)是正的、負(fù)的或是中性的,確定正、負(fù)帶電粒子的唯一方法就是利用外加磁場(chǎng),而觀察粒子徑跡在磁場(chǎng)中的偏轉(zhuǎn)方向。以電子徑跡的偏轉(zhuǎn)方向作為帶負(fù)電粒子的偏轉(zhuǎn)方向。相反的偏轉(zhuǎn)方向就為帶正電粒子。實(shí)驗(yàn)上通常都是把測(cè)量動(dòng)量和確定正、負(fù)電荷結(jié)合在一起。對(duì)于中性粒子,由于探測(cè)器對(duì)它不靈敏,因此只能根據(jù)次級(jí)作用產(chǎn)生的帶電粒子來推斷它的存在,并且確定它是中性的。 分?jǐn)?shù)電荷根據(jù)量子色動(dòng)力學(xué)理論的預(yù)言,組成強(qiáng)子的夸克,其所帶的電荷并不是質(zhì)子電荷e的整數(shù)倍,而是分?jǐn)?shù)電荷,如等。在探測(cè)分?jǐn)?shù)電荷粒子的情況下,除了需要知道其正、負(fù)號(hào)以外,更重要的是確定其電荷的絕對(duì)值。這就需要利用專門的實(shí)驗(yàn),一般有以下幾種方法:①測(cè)量電離法(用于云室和氣泡室)。由于電離度I與電荷數(shù)Z的二次方成正比,故在相同速度下,分?jǐn)?shù)電荷粒子的電離度要比單位電荷粒子的電離度小二次方倍。如單位電荷粒子的最小電離度為Io,則粒子的最小電離度為,粒子的最小電離度為。②低脈沖信號(hào)法(用于閃爍計(jì)數(shù)器)。原理是利用。對(duì)分?jǐn)?shù)電荷粒子,其輸出信號(hào)要比單位電荷粒子信號(hào)小二次方倍。③鈮球法。用處于超導(dǎo)狀態(tài)的小鈮球懸浮在兩個(gè)金屬板之間的磁場(chǎng)中,外加交變電場(chǎng)使鈮球受迫振動(dòng),測(cè)量其振幅的變化速率,就能測(cè)定其絕對(duì)電荷。方法類似于確定電子電荷絕對(duì)值的油滴法。作為帶電荷小球,也可以選用其他元素,如汞等。 粒子壽命的探測(cè) 衰變是個(gè)統(tǒng)計(jì)過程,對(duì)于高能相互作用產(chǎn)生的次級(jí)粒子,通常并不(需要)測(cè)定每個(gè)粒子的壽命,而是多粒子的統(tǒng)計(jì)平均壽命,粒子壽命的測(cè)定是取決于具體的實(shí)驗(yàn)要求、精確測(cè)定不穩(wěn)定粒子的壽命,需要設(shè)計(jì)專門的實(shí)驗(yàn)。一般的實(shí)驗(yàn),在允許的情況下,也可以附帶測(cè)知粒子的壽命,但探測(cè)粒子的種類是極有限的。
對(duì)高能粒子來說,如μ子(平均壽命為10-6 s)、π±介子(平均壽命為10-8s)等,絕大部分是不會(huì)在探測(cè)器中衰變的,例如 1GeV/c 的μ子平均可飛行4600m,同樣能量的π±介子平均可飛行55m,通常只有10-10 s量級(jí)的粒子(如Ξ、Ω、Σ、Λ、K恜等)才能在探測(cè)器中同時(shí)看到產(chǎn)生點(diǎn)和衰變點(diǎn),因此可以直接測(cè)定其壽命,對(duì)于壽命更短的粒子,例如πo 介子(壽命為10-16 s)以及共振態(tài)等,在探測(cè)器中所觀察到的產(chǎn)生點(diǎn)和衰變點(diǎn)是重合在一起的,因此也不能根據(jù)其飛行距離來測(cè)定壽命。共振態(tài)粒子的壽命常在10-22 ~10-23 s范圍,估計(jì)它們壽命的唯一方法是根據(jù)它們的質(zhì)量分布寬度。分布越寬,壽命越短。 空間飛行方向的探測(cè) 次級(jí)粒子相對(duì)于入射粒子的飛行方向是實(shí)驗(yàn)上必須精確知道的一個(gè)重要量。它由出射角θ及方位角φ表征,對(duì)于要精確測(cè)定次級(jí)粒子空間位置的實(shí)驗(yàn),必須利用徑跡室或空間分辨較高的粒子探測(cè)器。一般確定空間飛行方向的方法是先測(cè)量次級(jí)粒子徑跡上某些點(diǎn)的空間坐標(biāo)(xi,yi,zi),然后通過數(shù)學(xué)計(jì)算得到粒子飛行方向的幾何量θ和φ。